Ressource documentaire
| Dans l'oeil du microscope (en Français) | |||
Droits : Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs Auteur(s) : Borensztajn Stephan, SERRI Samia 01-07-2007 Description : La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesparticules. Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la surface. Aujourd'hui, un grand nombre de constructeurs proposent des microscopes à balayage de série équipés de détecteurs d'électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 1nm à 20 nm. Stephan Borensztajn, présente le fonctionnement de ce microscope, analyse des images en électrons secondaires, en éléctrons rétrodiffusés ainsi qu'une analyse en selection d'energie ou EDS.GénériqueRéalisation : Samia Serri Présentation : Stephan Borensztajn (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Image et son : Jean-Paul Flourat Montage et animation : Thierry Maillot Photos : Stephan Borensztajn Musique originale Jérémy Hank Gravier Responsables science en cours : Michèle Brédimas, Jean-Marie Blondeau Moyens Techniques : Studio Vidéo : Université Paris Diderot Remerciements : Luc Beaunier (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Copyright : Université Paris Diderot / Université Pierre et Marie Curie / Juillet 2007 Mots-clés libres : canon à électrons, éléctron rétrodiffusé, électron secondaire, intéraction électron-matière, microscope électronique à balayage, résolution d'image, sonde électronique | TECHNIQUE Type : image en mouvement Format : video/x-flv Source(s) : rtmp://streamer2.cerimes.fr/vod/canalu/videos/science/328926127 | ||
Entrepôt d'origine : Canal-U - OAI Archive Identifiant : oai:canal-u.fr:83705 Type de ressource : Ressource documentaire | |||
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Ressource pédagogique
| Dans l'oeil du microscope (en Français) | |||||||
Identifiant de la fiche : 83705 Schéma de la métadonnée : LOMv1.0, LOMFRv1.0 Droits : libre de droits, gratuit Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs Auteur(s) : BORENSZTAJN STEPHAN Éditeur(s) : Samia SERRI 01-07-2007 Description : La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesparticules. Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la surface. Aujourd'hui, un grand nombre de constructeurs proposent des microscopes à balayage de série équipés de détecteurs d'électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 1nm à 20 nm. Stephan Borensztajn, présente le fonctionnement de ce microscope, analyse des images en électrons secondaires, en éléctrons rétrodiffusés ainsi qu'une analyse en selection d'energie ou EDS.GénériqueRéalisation : Samia Serri Présentation : Stephan Borensztajn (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Image et son : Jean-Paul Flourat Montage et animation : Thierry Maillot Photos : Stephan Borensztajn Musique originale Jérémy Hank Gravier Responsables science en cours : Michèle Brédimas, Jean-Marie Blondeau Moyens Techniques : Studio Vidéo : Université Paris Diderot Remerciements : Luc Beaunier (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Copyright : Université Paris Diderot / Université Pierre et Marie Curie / Juillet 2007 Mots-clés libres : canon à électrons, éléctron rétrodiffusé, électron secondaire, intéraction électron-matière, microscope électronique à balayage, résolution d'image, sonde électronique
| PEDAGOGIQUE Type pédagogique : cours / présentation Niveau : enseignement supérieur, autres TECHNIQUE Type de contenu : image en mouvement Format : video/x-flv Taille : 125.92 Mo Durée d'exécution : 28 minutes 37 secondes RELATIONS Cette ressource fait partie de : | ||||||
Entrepôt d'origine : Canal-U - OAI Archive Identifiant : oai:canal-u.fr:83705 Type de ressource : Ressource pédagogique | |||||||
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