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Ressource documentaire
Métrologie à petites échelles (en Français) | |||
Droits : Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs Auteur(s) : CRETIN Bernard, CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique 01-01-2003 Description : Microscopie à champ procheGénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS Mots-clés libres : effet d'échelle, étalon, grandeur physique, mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie | TECHNIQUE Type : image en mouvement Format : video/x-flv Source(s) : rtmp://streamer2.cerimes.fr/vod/canalu/videos/science/1927775292 | ||
Entrepôt d'origine : Canal-U - OAI Archive Identifiant : oai:canal-u.fr:83525 Type de ressource : Ressource documentaire |
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Ressource pédagogique
Métrologie à petites échelles (en Français) | |||||||
Identifiant de la fiche : 83525 Schéma de la métadonnée : LOMv1.0, LOMFRv1.0 Droits : libre de droits, gratuit Droits réservés à l'éditeur et aux auteurs Auteur(s) : CRETIN BERNARD Éditeur(s) : CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique 01-01-2003 Description : Microscopie à champ procheGénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS Mots-clés libres : effet d'échelle, étalon, grandeur physique, mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie
| PEDAGOGIQUE Type pédagogique : cours / présentation Niveau : enseignement supérieur, master TECHNIQUE Type de contenu : image en mouvement Format : video/x-flv Taille : 74.64 Mo Durée d'exécution : 29 minutes 18 secondes RELATIONS Cette ressource fait partie de : | ||||||
Entrepôt d'origine : Canal-U - OAI Archive Identifiant : oai:canal-u.fr:83525 Type de ressource : Ressource pédagogique |
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