Un lien vers un dossier thématique du CEA sur les nouveaux instruments de microscopie : microscope électronique à balayage, microscope à force atomique, spectromètre à temps de vol, spectromicroscope de photo-électrons...
Mot(s) clés libre(s) : microscope, microscopie, microscope électronique à balayage, microscope à force atomique, AFM, ToFSIMS, spectromètre, spectromètre de masse, PEEM, PhotoElectron Emission Microscope

La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie basée sur le principe des des intéractions électrons-matière. Un faisceau d'éléctrons balaie la surface de l'échantillon à analyser qui, en réponse, réémet certainesparticules. Différents détecteurs permettent d'analyser ces particules et de reconstruire une image de la surface. Aujourd'hui, un grand nombre de constructeurs proposent des microscopes à balayage de série équipés de détecteurs d'électrons secondaires et dont la résolution se situe entre 1nm à 20 nm. Stephan Borensztajn, présente le fonctionnement de ce microscope, analyse des images en électrons secondaires, en éléctrons rétrodiffusés ainsi qu'une analyse en selection d'energie ou EDS.GénériqueRéalisation : Samia Serri Présentation : Stephan Borensztajn (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Image et son : Jean-Paul Flourat Montage et animation : Thierry Maillot Photos : Stephan Borensztajn Musique originale Jérémy Hank Gravier Responsables science en cours : Michèle Brédimas, Jean-Marie Blondeau Moyens Techniques : Studio Vidéo : Université Paris Diderot Remerciements : Luc Beaunier (Laboratoire Interfaces et Systèmes Electrochimiques) Copyright : Université Paris Diderot / Université Pierre et Marie Curie / Juillet 2007
Mot(s) clés libre(s) : canon à électrons, éléctron rétrodiffusé, électron secondaire, intéraction électron-matière, microscope électronique à balayage, résolution d'image, sonde électronique