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Titre
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Métrologie à petites échelles
/ CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique
/ 01-01-2003
/ Canal-U - OAI Archive
CRETIN Bernard
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Microscopie à champ procheGénériqueBernard Cretin LPMO-CNRS
Mot(s) clés libre(s) : effet d'échelle, étalon, grandeur physique, mesure, métrologie, microscopie à sonde locale, microscopie en champ proche, microscopie optique, nanométrologie
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